બ્રાઇટ ફિલ્ડ ઓબ્ઝર્વેશન મેથડ અને ડાર્ક ફિલ્ડ ઓબ્ઝર્વેશન મેથડ એ બે સામાન્ય માઇક્રોસ્કોપી ટેકનિક છે, જે વિવિધ પ્રકારના સેમ્પલ ઓબ્ઝર્વેશનમાં અલગ-અલગ એપ્લિકેશન અને ફાયદા ધરાવે છે. નીચે નિરીક્ષણની બે પદ્ધતિઓનું વિગતવાર વર્ણન છે.
તેજસ્વી ક્ષેત્ર અવલોકન પદ્ધતિ:
તેજસ્વી ક્ષેત્ર નિરીક્ષણ પદ્ધતિ એ સૌથી મૂળભૂત અને વ્યાપકપણે ઉપયોગમાં લેવાતી માઇક્રોસ્કોપી તકનીકોમાંની એક છે. તેજસ્વી ક્ષેત્ર નિરીક્ષણમાં, નમૂના પ્રસારિત પ્રકાશથી પ્રકાશિત થાય છે, અને પ્રસારિત પ્રકાશની તીવ્રતાના આધારે છબી રચાય છે. આ પદ્ધતિ ઘણા નિયમિત જૈવિક નમૂનાઓ માટે યોગ્ય છે, જેમ કે સ્ટેઇન્ડ પેશીના ટુકડા અથવા કોષો.
ફાયદા:
ચલાવવા માટે સરળ અને જૈવિક અને અકાર્બનિક નમૂનાઓની વિશાળ શ્રેણી માટે લાગુ.
જૈવિક નમૂનાઓની એકંદર રચનાનું સ્પષ્ટ દૃશ્ય પ્રદાન કરે છે.
ગેરફાયદા:
પારદર્શક અને રંગહીન નમૂનાઓ માટે યોગ્ય નથી, કારણ કે તેમાં ઘણીવાર વિપરીતતાનો અભાવ હોય છે, જે સ્પષ્ટ છબીઓ મેળવવા માટે પડકારરૂપ બનાવે છે.
કોષોની અંદરની સુંદર આંતરિક રચનાઓ જાહેર કરવામાં અસમર્થ.
ડાર્ક ફિલ્ડ અવલોકન પદ્ધતિ:
ડાર્ક ફિલ્ડ ઓબ્ઝર્વેશન નમૂનાની આસપાસ ડાર્ક બેકગ્રાઉન્ડ બનાવવા માટે વિશિષ્ટ લાઇટિંગ વ્યવસ્થાનો ઉપયોગ કરે છે. આનાથી નમૂના પ્રકાશને વેરવિખેર અથવા પ્રતિબિંબિત કરવા માટેનું કારણ બને છે, જેના પરિણામે ઘેરી પૃષ્ઠભૂમિ સામે તેજસ્વી છબી બને છે. આ પદ્ધતિ ખાસ કરીને પારદર્શક અને રંગહીન નમૂનાઓ માટે યોગ્ય છે, કારણ કે તે નમૂનાની કિનારીઓ અને રૂપરેખાને વધારે છે, જેનાથી વિપરીતતા વધે છે.
ડાર્ક ફીલ્ડ ઓબ્ઝર્વેશન માટે જરૂરી એક ખાસ એક્સેસરી એ ડાર્ક ફીલ્ડ કન્ડેન્સર છે. તે પ્રકાશના કિરણને તળિયેથી નિરીક્ષણ હેઠળની વસ્તુને પસાર થવા ન દેવાની લાક્ષણિકતા છે, પરંતુ પ્રકાશના માર્ગને બદલીને જેથી તે નિરીક્ષણ હેઠળની ઑબ્જેક્ટ તરફ ત્રાંસી રહે, જેથી લાઇટિંગ લાઇટ ઑબ્જેક્ટિવ લેન્સમાં સીધો પ્રવેશ ન કરે, અને નિરીક્ષણ હેઠળ ઑબ્જેક્ટની સપાટી પર પ્રતિબિંબ અથવા વિવર્તન પ્રકાશ દ્વારા રચાયેલી તેજસ્વી છબીનો ઉપયોગ થાય છે. શ્યામ ક્ષેત્ર અવલોકનનું રીઝોલ્યુશન 0.02-0.004μm સુધી, તેજસ્વી ક્ષેત્ર નિરીક્ષણ કરતા ઘણું વધારે છે.
ફાયદા:
જીવંત કોષો જેવા પારદર્શક અને રંગહીન નમૂનાઓનું નિરીક્ષણ કરવા માટે લાગુ.
સેમ્પલની કિનારીઓ અને ઝીણી રચનાઓને વધારે છે, જેનાથી કોન્ટ્રાસ્ટ વધે છે.
ગેરફાયદા:
વધુ જટિલ સેટઅપ અને ચોક્કસ સાધનોની જરૂર છે.
શ્રેષ્ઠ પરિણામો માટે નમૂના અને પ્રકાશ સ્ત્રોતની સ્થિતિને સમાયોજિત કરવાનો સમાવેશ થાય છે.
પોસ્ટ સમય: ઓગસ્ટ-24-2023